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CMI900电镀层测厚仪|CMI900镀金测厚仪|CMI900镀镍测厚仪

产品名称:CMI900电镀层测厚仪|CMI900镀金测厚仪|CMI900镀镍测厚仪

产品型号:CMI900

产品类别:厚度检测类试验设备

镀镍测厚仪

产品简介:CMI900荧光镀层测厚仪特点: 1、精度高、稳定性好 2、强大的数据统计、处理功能 3、测量范围宽 4、NIST认证的标准片 5、全球服务及支持。

CMI900电镀层测厚仪技术规格:

X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准
     75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选
装备有安全防射线光闸
二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
准直器程控交换系统 最多可同时装配6种规格的准直器
多种规格尺寸准直器任选:
-圆形,如4、6、8、12、20 mil等
-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
 
测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时,最小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
在12.7mm聚焦距离时,最大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
样品室结构 开槽式样品室
最大样品台尺寸 610mm x 610mm
XY轴程控移动范围 标准:152.4 x 177.8mm
还有5种规格任选
Z轴程控移动高度 43.18mm
XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
样品观察系统 高分辨彩色CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。
激光自动对焦功能
可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置 IBM计算机
惠普或爱普生彩色喷墨打印机
分析应用软件 操作系统:Windows2000中文平台
分析软件包:SmartLink FP软件包
测厚范围 可测定厚度范围:取决于您的具体应用。
 
 
 
 
基本分析
 
 
采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
可检测元素范围:Ti22 – U92
可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
贵金属检测,如Au karat评价
材料和合金元素分析,
材料鉴别和分类检测
液体样品分析,如镀液中的金属元素含量
多达4个样品的光谱同时显示和比较
元素光谱定性分析
调整和校正 系统自动调整和校正功能,自动消除系统漂移
测量自动化 鼠标激活测量模式:“Point and Shoot”
多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式
测量位置预览功能
激光对焦和自动对焦功能
样品台程控 设定测量点
连续多点测量
测量位置预览(图表显示)
 
 
统计计算
平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图
数据分组、X-bar/R图表、直方图
数据库存储功能
任选软件:统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
 
系统安全监测
Z轴保护传感器
样品室门开闭传感器
操作系统多级密码操作系统:操作员、分析员、工程师
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