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厚度检测类试验设备
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产品详细说明
COSMOS-2X荧光X射线膜厚仪-科迪仪器专业销售！
COSMOS-2X荧光X射线膜厚仪技术参数：
1. X线源：油浸式由上而下垂直照射方式。
2. 检出器：比例计数管。
3. 滤波器：采用 Co 和 Ni 双滤波器及数字式滤波器，可单一或同时使用。
4. 准直仪：采用五种孔径一体成型式，可自动切换使用。
5. 样品观测系统：彩色CCD及高画质显示屏。
6. 多能谱分析器：256高频分析器，光谱自动分析。
7. 测量项目：单/多层/无电解镍/合金膜厚成份比/元素光谱峰值测定分析.
8. 测量范围：原子序22 ~ 82 ，最小量测值0.05um.
9. 测量机能：同一点重复测定机能，输出形式设定，能谱测定.
10. 底材补正功能：当样品与标准片的底材不同时，可作底材补正。
11. 本机俱有自动安全断电系统功能.
12. 由锁匙开关来控制X 线输出，以防止外人任意操作.
13. 测量部主机尺寸：362(W) ×425(D) ×521(H) ㎜.
14. 测量台尺寸尺寸：170 (W) ×100 (D) ㎜
15. 移动量(X-Y-Z轴)：70 ×70 ×80 ㎜.
16. 使用电源：电压: AC100V/220V ±10V ； 50/60Hz
2. 检出器：比例计数管。
3. 滤波器：采用 Co 和 Ni 双滤波器及数字式滤波器，可单一或同时使用。
4. 准直仪：采用五种孔径一体成型式，可自动切换使用。
5. 样品观测系统：彩色CCD及高画质显示屏。
6. 多能谱分析器：256高频分析器，光谱自动分析。
7. 测量项目：单/多层/无电解镍/合金膜厚成份比/元素光谱峰值测定分析.
8. 测量范围：原子序22 ~ 82 ，最小量测值0.05um.
9. 测量机能：同一点重复测定机能，输出形式设定，能谱测定.
10. 底材补正功能：当样品与标准片的底材不同时，可作底材补正。
11. 本机俱有自动安全断电系统功能.
12. 由锁匙开关来控制X 线输出，以防止外人任意操作.
13. 测量部主机尺寸：362(W) ×425(D) ×521(H) ㎜.
14. 测量台尺寸尺寸：170 (W) ×100 (D) ㎜
15. 移动量(X-Y-Z轴)：70 ×70 ×80 ㎜.
16. 使用电源：电压: AC100V/220V ±10V ； 50/60Hz
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